菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

一、儀器概述

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。該儀器具備*功能，可用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，還能對大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層進(jìn)行檢測。

二、性能優(yōu)勢

1. 穩(wěn)定性佳：XDL 230 擁有良好的長期穩(wěn)定性，無需頻繁校準(zhǔn)儀器，為用戶節(jié)省時間與精力。

2. 測量精準(zhǔn)：比例接收器能夠?qū)崿F(xiàn)高計數(shù)率，從而保障高精度測量，確保數(shù)據(jù)的可靠性。

3. 測量靈活：采用 FISCHER 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)，還是固體和液體樣品，在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下，儀器都能進(jìn)行測量和分析。

三、適用場景

菲希爾X射線測厚儀XDL 230 特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控，其典型應(yīng)用領(lǐng)域如下：

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件；

• 測量超薄鍍層，例如裝飾鉻；

• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；

• 測量印刷線路板；

• 分析電鍍?nèi)芤骸?/span>