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更新時間:2023-11-10
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EPK上??偞鞰iniTest 7400測厚儀

EPK上海總代理MiniTest 7400測厚儀
Minitest7400涂層測厚儀是德EPK生產研發(fā)的涂層測厚儀,屬于同類測厚儀中的產品,儀器操作簡單,菜單界面直觀清晰,通過圖形界面操作,并提供類似于電腦的幫助功能:上下文相關的幫助,歸檔文件夾結構和菜單驅動的導航數據的符號和文本顯示。可以直接顯示統(tǒng)計值,趨勢圖,直方圖。
SIDSP即探頭內部數字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。跟傳統(tǒng)技術不同,SIDSP在探頭頂部產生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經過32位數字轉換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項的數字處理技術,同時應用在現(xiàn)代通訊技術(手機網絡)方面,如數字濾波器,基帶轉換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。
涂層測厚儀產品特征:
具有上下文相關聯(lián)機幫助的直觀菜單控件確保易于使用。
大背光控制鍵允許額外的舒適,即使戴著工作手套。
的觀察條件由大背光圖形顯示器提供
方便在夜間和能見度差的條件下使用。
配備一個配置助手,MiniTest 7400簡化了校準和參數設置,允許在zui短的時間內解決困難的測量任務,而無需特殊技能。
PC類似數據管理提供快速創(chuàng)建文件夾和輕松設置定制批次。
除了讀數的數字顯示外,統(tǒng)計數據和讀數的清晰排列的表示包括趨勢和直方圖,過程能力指數“Cp”和“Cpk”以及塊值統(tǒng)計。
錯誤的讀數可以從批處理中刪除,以防止誤導性統(tǒng)計

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